密度計校驗裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN200520038795.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN2788176Y | 公開(公告)日 | 2006-06-14 |
申請公布號 | CN2788176Y | 申請公布日 | 2006-06-14 |
分類號 | G01N9/00(2006.01);G12B13/00(2006.01) | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 虞平良;吳晨;朱小明;呂德祚;金浩強;周榕;張戟;侯曉明;王培勝 | 申請(專利權(quán))人 | 上海交大東偉科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 上海東方易知識產(chǎn)權(quán)事務所 | 代理人 | 歐陽俊立 |
地址 | 200002上海市中山東一路13號六樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 密度計校驗裝置,涉及挖泥船測量泥漿濃度的密度計的校驗裝置,需要解決便捷、準確校驗的問題。本實用新型由底座、伺服電機、圓錐齒輪組件和轉(zhuǎn)盤位置傳感器組成,其特征是底座上連有安裝伺服電機的支架,伺服電機軸端裝圓錐齒輪組件的主動齒輪,與主動齒輪嚙合的從動齒輪成轉(zhuǎn)盤狀,轉(zhuǎn)盤中心帶有轉(zhuǎn)軸,支承轉(zhuǎn)軸的支架固定在底座兩邊,轉(zhuǎn)軸與輪齒之間的圓盤面劃分成檢測校驗的6個位置區(qū),各位置區(qū)分別布設(shè)校驗鋼板,其中一個位置區(qū)為射線通孔,轉(zhuǎn)盤邊沿連有與傳感器的槽形光耦耦合的信號圈,信號圈上制有與盤體上各校驗鋼板中心對應的定位孔和編碼孔,轉(zhuǎn)盤位置傳感器固定在轉(zhuǎn)盤下方的底座上。本實用新型適用于密度計校驗裝置。 |
