閃存存儲設備的測試方法及裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202011608228.0 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112530512A | 公開（公告）日 | 2021-03-19 |
| 申請公布號 | CN112530512A | 申請公布日 | 2021-03-19 |
| 分類號 | G11C29/56(2006.01)I;G06K9/62(2006.01)I | 分類 | 信息存儲; |
| 發(fā)明人 | 張坤 | 申請（專利權(quán)）人 | 北京澤石科技有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責任公司 | 代理人 | 董文倩 |
| 地址 | 100085北京市海淀區(qū)上地東路1號院1號樓2層203-1室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種閃存存儲設備的測試方法及裝置。其中，該方法包括：采用測試用例對多個計算機閃存存儲設備進行讀寫測試，得到測試數(shù)據(jù)；通過聚類算法對測試數(shù)據(jù)進行聚類，得到多個數(shù)據(jù)集合；根據(jù)多個數(shù)據(jù)集合生成測試結(jié)果。本發(fā)明解決了相關技術中通過專用的讀寫工具生成測試日志，人工分析測試日志確定閃存存儲設備的讀寫速度，誤差較大，效率較低的技術問題。?? |
