一種光分路器用芯片角度檢測(cè)裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201620490347.3 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN205748303U | 公開（公告）日 | 2016-11-30 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN205748303U | 申請(qǐng)公布日 | 2016-11-30 |
| 分類號(hào) | G01B11/26(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 皮富云;譚蘭蘭 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 東莞市嘉迅光電科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京國坤專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 東莞市嘉迅光電科技有限公司;深圳市嘉迅通光電有限公司;湖北省嘉迅光電科技有限公司 |
| 地址 | 523000 廣東省東莞市塘廈鎮(zhèn)清湖頭清平路51-1號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種光分路器用芯片角度檢測(cè)裝置，包括第一側(cè)板、臺(tái)階、剎板、底板、滑輪、擋板、光源孔、第二側(cè)板、第三側(cè)板、觀察窗、測(cè)試臺(tái)、第一平面、第二平面和鎖扣。本實(shí)用新型的有益效果是：該種光分路器用芯片角度檢測(cè)裝置的測(cè)試臺(tái)上設(shè)置第一平面、第二平面，且第一平面的高度小于第二平面的高度，方便待測(cè)芯片的檢測(cè)；第三側(cè)板內(nèi)部設(shè)有觀察窗，方便通過觀察窗觀察芯片的大小；底板上依次設(shè)置大小相等的臺(tái)階，且臺(tái)階上均設(shè)置測(cè)試臺(tái)，實(shí)現(xiàn)多個(gè)芯片的檢測(cè)；擋板所在平面與測(cè)試臺(tái)側(cè)面之間夾角為30°，且擋板的長度小于觀察窗的長度，將待測(cè)的芯片的發(fā)射光照射在擋板上，通過觀察窗觀察擋板上的情況，從而確保芯片檢測(cè)的準(zhǔn)確性。 |
