一種位移和速度測量方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201210310704.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN102798347A | 公開(公告)日 | 2012-11-28 |
申請公布號 | CN102798347A | 申請公布日 | 2012-11-28 |
分類號 | G01B11/04(2006.01)I;G01P3/68(2006.01)I;G01C23/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 陳廣強;杜硯文;張淋圖;郭德凡 | 申請(專利權)人 | 上海金璽實驗室有限公司 |
代理機構 | 上海申匯專利代理有限公司 | 代理人 | 翁若瑩 |
地址 | 201714 上海市青浦區(qū)華紡路99弄99號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種位移和速度測量方法,其特征在于:首先在被測物體的測量段內(nèi)做測量標識;然后調(diào)整被測試物體上的測量標識在線陣相機的掃描范圍內(nèi);被測物體開始運動或者變形時,線陣相機以設定頻率拍攝圖像;與線陣相機相連的圖像采集卡采集拍攝的圖像上的測量標識,并通過圖像數(shù)字化處理軟件轉換為數(shù)字信號,輸入計算機進行處理,輸出位移和速度值。本發(fā)明提供的方法克服了現(xiàn)有技術的不足,通過使用幀速率高的線陣相機,可以高精度、超高速地進行多點位移和速度的測量,滿足高速運動的被測物體以及需要高精度測試位移、速度的場合的測量要求。 |
