一種渦輪葉片錯齒測量裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202123297186.6 申請日 -
公開（公告）號 CN216977702U 公開（公告）日 2022-07-15
申請公布號 CN216977702U 申請公布日 2022-07-15
分類號 G01B5/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐培江;蘇成;李枚芬;邱紅昌 申請（專利權(quán)）人 成都和鴻科技股份有限公司
代理機構(gòu) 成都睿道專利代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 610100四川省成都市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)（龍泉驛區(qū)）南五路2899號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及渦輪葉片檢測的技術(shù)領(lǐng)域，具體而言，涉及一種渦輪葉片錯齒測量裝置包括底座、滑塊和檢測儀?；瑝K可滑動的設(shè)置于底座?；瑝K的頂部配合榫齒設(shè)置，以使榫頭放置于滑塊頂部時，榫頭下部的榫齒的外表面貼合于滑塊的頂面。檢測儀設(shè)置于滑塊的一側(cè)。檢測儀測量榫頭上部的榫齒與檢測儀之間的距離。使用時，將渦輪葉片的榫頭放置于滑塊上方，使得檢測儀的檢測端抵接榫頭上部的榫齒并測量榫頭上部的榫齒與檢測儀之間的距離。檢測榫頭兩側(cè)的榫齒與檢測儀之間的距離并將兩組數(shù)據(jù)進行比對。兩組數(shù)據(jù)的差值即為兩側(cè)的榫齒的錯位量。