硬盤(pán)升級(jí)讀寫(xiě)測(cè)試系統(tǒng)及其方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111070669.4 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113722169A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-11-30 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113722169A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-30 |
| 分類號(hào) | G06F11/22（2006.01）I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 任爽晴;劉政宏 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 上海順詮科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 上海思微知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 田婷 |
| 地址 | 201114上海市閔行區(qū)浦星路789號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種硬盤(pán)升級(jí)讀寫(xiě)測(cè)試系統(tǒng)，包含一選擇模組、一測(cè)試模組、一升級(jí)模組、一數(shù)據(jù)偵測(cè)模組與一結(jié)果產(chǎn)生模組。選擇模組受操作地在多個(gè)內(nèi)建測(cè)試項(xiàng)目中選擇實(shí)際測(cè)試項(xiàng)目。測(cè)試模組用以依據(jù)實(shí)際測(cè)試項(xiàng)目，對(duì)待測(cè)硬盤(pán)進(jìn)行讀寫(xiě)測(cè)試作業(yè)。升級(jí)模組用以在讀寫(xiě)測(cè)試作業(yè)進(jìn)行時(shí)，升級(jí)待測(cè)硬盤(pán)的固件版本，以使待測(cè)硬盤(pán)先后依序處于升級(jí)前狀態(tài)、升級(jí)中狀態(tài)與升級(jí)后狀態(tài)。數(shù)據(jù)偵測(cè)模組用以在讀寫(xiě)測(cè)試作業(yè)進(jìn)行時(shí)，分別在升級(jí)前狀態(tài)、升級(jí)中狀態(tài)與升級(jí)后狀態(tài)對(duì)待測(cè)硬盤(pán)偵測(cè)出多個(gè)讀寫(xiě)數(shù)據(jù)值。結(jié)果產(chǎn)生模組用以將讀寫(xiě)數(shù)據(jù)值產(chǎn)生測(cè)試結(jié)果信息。 |
