一種光澤度測量設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410366012.6 申請日 -
公開（公告）號 CN104198442B 公開（公告）日 2017-03-29
申請公布號 CN104198442B 申請公布日 2017-03-29
分類號 G01N21/57(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳億善;薄克艷 申請（專利權(quán)）人 愛彼思（蘇州）自動(dòng)化科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京縱橫知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 董建林
地址 215163 江蘇省蘇州市高新區(qū)青城山路300號日本工業(yè)村1號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種光澤度測量設(shè)備，包括底板，所述底板的上方設(shè)置有可升降的測試平臺，所述測試平臺后方的底板上還設(shè)置有兩塊固定板，所述兩塊固定板之間設(shè)置有可相對其轉(zhuǎn)動(dòng)的支板，所述支板上設(shè)置有測試模組，所述測試模組包括光澤度測量模組。通過將用于安裝測試模組的支板設(shè)置成可翻倒的形式，實(shí)現(xiàn)在同一臺檢測設(shè)備上實(shí)現(xiàn)了對產(chǎn)品上表面和側(cè)面的非接觸式光澤度檢測，不僅提高了檢測效率和質(zhì)量，而且降低了檢測成本。