一種基于機(jī)器視覺(jué)的芯片角度自動(dòng)旋轉(zhuǎn)校正方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201010019540.6 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(kāi)(公告)號(hào) | CN101758028B | 公開(kāi)(公告)日 | 2013-04-17 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN101758028B | 申請(qǐng)公布日 | 2013-04-17 |
分類(lèi)號(hào) | B07C5/02(2006.01)I | 分類(lèi) | 將固體從固體中分離;分選; |
發(fā)明人 | 龔時(shí)華;李斌;吳濤;黃禹;李海洲;王龍文;林康華 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人 | 東莞華科精密矽電設(shè)備有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 東莞市華南專(zhuān)利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 梁永宏 |
地址 | 523808 廣東省東莞市松山湖科技產(chǎn)業(yè)園區(qū)科技九路1號(hào)研發(fā)樓310室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種基于機(jī)器視覺(jué)的芯片角度自動(dòng)旋轉(zhuǎn)校正方法,包括:獲取芯片膜上芯片i的原始位置坐標(biāo)Xi,Yi及偏轉(zhuǎn)角度θi;獲取芯片膜的旋轉(zhuǎn)中心位置坐標(biāo)Ox,Oy;反算芯片i理論旋轉(zhuǎn)后理論位置坐標(biāo)X′i,Y′i;選取芯片膜上的芯片m,設(shè)m=1;將芯片膜以芯片m的偏轉(zhuǎn)角度θm進(jìn)行實(shí)際旋轉(zhuǎn);獲取該芯片實(shí)際旋轉(zhuǎn)后實(shí)際位置坐標(biāo)與該芯片理論旋轉(zhuǎn)后理論位置坐標(biāo)X′m,Y′m間的偏差λmx,λmy;判斷偏差λmx,λmy是否大于某一閾值,若是,則修正旋轉(zhuǎn)中心位置坐標(biāo)O′x,O′y,重新反算修正后的該芯片理論旋轉(zhuǎn)后理論位置坐標(biāo)X″m,Y″m,并移動(dòng)進(jìn)行芯片位置校正;否則,按照該芯片理論旋轉(zhuǎn)后理論位置坐標(biāo)X′m,Y′m移動(dòng)進(jìn)行芯片位置校正;進(jìn)行下一顆芯片角度校正。本發(fā)明能夠結(jié)合機(jī)器視覺(jué)使得芯片準(zhǔn)確地校正,校正結(jié)果的精確性較高,從而進(jìn)一步提高芯片的分選速度。 |
