一種熒光高光譜測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201910261976.7 申請日 -
公開（公告）號 CN110160651B 公開（公告）日 2022-03-08
申請公布號 CN110160651B 申請公布日 2022-03-08
分類號 G01J3/44（2006.01）I;G01J3/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳興海;劉業(yè)林;黃智輝;黃宇;王金龍;于金科 申請（專利權(quán)）人 江蘇雙利合譜科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 成都弘毅天承知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 鄒敏菲
地址 214000 江蘇省無錫市梁溪區(qū)南湖大道飛宏路58-1-108
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種熒光高光譜測試系統(tǒng)，本發(fā)明屬于高光譜測試技術(shù)領(lǐng)域，涉及一種熒光高光譜測試系統(tǒng)。本發(fā)明的一種熒光高光譜測試系統(tǒng)，其光線依次通過第一聚焦透鏡、光波導(dǎo)、激發(fā)濾光片組、導(dǎo)光管、第二聚焦透鏡、反射鏡、樣品臺、發(fā)射濾光片組，最后被高光譜相機(jī)捕捉，可為熒光高光譜成像提供較大面積的照射光斑，并使光線均勻的照射在樣品上，增加成像效果，且避免了入射光直接照射樣品帶來損壞的問題，且光路互不影響，提高了檢測的準(zhǔn)確性；還可快速完成氙燈光源和鹵素光源的切換，提高了工作效率。