邏輯掃描老化測(cè)試系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201811438616.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN109406902B | 公開（公告）日 | 2021-03-19 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN109406902B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-19 |
| 分類號(hào) | G01R31/00(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 許小麗;張心標(biāo);曾輝 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 中科曙光信息產(chǎn)業(yè)成都有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京蘭亭信通知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 趙永剛 |
| 地址 | 610015四川省成都市天府新區(qū)華陽街道天府大道南段846號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種邏輯掃描老化測(cè)試系統(tǒng)。所述系統(tǒng)包括測(cè)試訪問端口、多個(gè)控制器以及與每個(gè)控制器對(duì)應(yīng)的模塊內(nèi)部老化測(cè)試相關(guān)控制電路，其中，所述測(cè)試訪問端口為狀態(tài)控制器，與每個(gè)控制器連接，用于控制捕獲、移位或更新狀態(tài)的跳轉(zhuǎn)；所述控制器，與所對(duì)應(yīng)的模塊內(nèi)部老化測(cè)試相關(guān)控制電路連接，用于產(chǎn)生老化測(cè)試需要的控制信號(hào)并發(fā)送給所述模塊內(nèi)部老化測(cè)試相關(guān)控制電路，并將所述模塊內(nèi)部老化測(cè)試相關(guān)控制電路生成的老化測(cè)試的結(jié)果發(fā)送給所述測(cè)試訪問端口；所述模塊內(nèi)部老化測(cè)試相關(guān)控制電路，用于根據(jù)所述控制器產(chǎn)生的老化測(cè)試需要的控制信號(hào)，對(duì)待測(cè)電路進(jìn)行老化測(cè)試，生成老化測(cè)試的結(jié)果。本發(fā)明能夠降低芯片邏輯掃描老化測(cè)試的成本。?? |
