射頻探針測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022890896.9 申請日 -
公開（公告）號 CN213750024U 公開（公告）日 2021-07-20
申請公布號 CN213750024U 申請公布日 2021-07-20
分類號 G01R1/073;G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周夏軍;李銀龍 申請（專利權(quán)）人 浙江中冀科技有限公司
代理機構(gòu) 桂林文必達專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 張學平
地址 315300 浙江省寧波市慈溪高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開發(fā)區(qū)新興一路1號108室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了射頻探針測試裝置，所述調(diào)節(jié)組件位于所述底座的上方，所述測試組件位于所述底座的上方，所述下壓組件位于所述測試組件的上方，所述豎板與所述底座固定連接，并位于所述底座的上方，所述豎板上設(shè)有兩個豎向滑槽，所述橫板位于所述豎板的上側(cè)，所述探針板與兩個所述豎向滑槽相配合，所述射頻探針位于所述探針板的下方，所述探針頭位于所述射頻探針的下方，所述彈簧設(shè)置于所述射頻探針內(nèi)部，且所述彈簧的兩端分別與所述射頻探針和所述探針頭相接觸，通過上述結(jié)構(gòu)設(shè)計，能夠使得對PCBA板保護的同時，也便于對PCBA板的不同型號進行調(diào)節(jié)測試。