半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202030130028.3 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN305979990S 公開（公告）日 2020-08-11
申請(qǐng)公布號(hào) CN305979990S 申請(qǐng)公布日 2020-08-11
分類號(hào) 10-05 (12) 分類 -
發(fā)明人 劉福紅;羅佳;王敘夫 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳青銅劍科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) - 代理人 -
地址 518000廣東省深圳市坪山區(qū)坑梓街道辦事處秀新社區(qū)錦繡中路14號(hào)深福?，F(xiàn)代光學(xué)廠區(qū)B棟101
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的名稱：半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置。2.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的用途：本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品用于對(duì)半導(dǎo)體器件的電性參數(shù)進(jìn)行動(dòng)態(tài)測(cè)試。3.本外觀設(shè)計(jì)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)要點(diǎn)：在于形狀。4.最能表明設(shè)計(jì)要點(diǎn)的圖片或照片：立體圖。