半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202020488620.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN212364485U | 公開（公告）日 | 2021-01-15 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN212364485U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-01-15 |
| 分類號(hào) | G01R31/26 | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 蔣成明;雷仕建;劉福紅;何強(qiáng);王敘夫;王運(yùn) | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 深圳青銅劍科技股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | - | 代理人 | - |
| 地址 | 518000 廣東省深圳市坪山區(qū)坑梓街道辦事處秀新社區(qū)錦繡中路14號(hào)深福保現(xiàn)代光學(xué)廠區(qū)B棟101 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)。所述半導(dǎo)體器件測試系統(tǒng)包括上位機(jī)、電源輸入單元、門極驅(qū)動(dòng)單元、溫度調(diào)節(jié)單元及檢測單元。所述上位機(jī)用于根據(jù)用戶的測試指令發(fā)出不同的控制信號(hào)。所述電源輸入單元用于根據(jù)上位機(jī)傳輸?shù)目刂菩盘?hào)提供高壓電源。所述門極驅(qū)動(dòng)單元用于根據(jù)上位機(jī)傳輸?shù)目刂菩盘?hào)產(chǎn)生對(duì)應(yīng)的驅(qū)動(dòng)信號(hào)。所述溫度調(diào)節(jié)單元用于根據(jù)上位機(jī)傳輸?shù)目刂菩盘?hào)提供測試所需的溫度。所述檢測單元用于根據(jù)上位機(jī)傳輸?shù)目刂菩盘?hào)獲取待測半導(dǎo)體器件的測試數(shù)據(jù)，并將測試數(shù)據(jù)傳輸至上位機(jī)以得到測試結(jié)果。如此，可實(shí)現(xiàn)測試過程的集成控制，提高測試效率。 |
