一種光電材料及器件沖擊電壓測試裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110140088.7 申請日 -
公開（公告）號 CN113009289A 公開（公告）日 2021-06-22
申請公布號 CN113009289A 申請公布日 2021-06-22
分類號 G01R31/12 分類 測量；測試;
發(fā)明人 夏庚培;李添;向維;李建勤;江瑜;成皓楠;任麟東 申請（專利權(quán)）人 成都市產(chǎn)品質(zhì)量監(jiān)督檢驗研究院
代理機構(gòu) 成都九鼎天元知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 曹洋苛
地址 610100 四川省成都市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)（龍泉驛區(qū)）興茂街16號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種光電材料及器件沖擊電壓測試裝置及方法，包括充電組件、調(diào)節(jié)輸出組件、監(jiān)測組件和待測載體；充電組件與調(diào)節(jié)輸出組件連接，調(diào)節(jié)輸出組件與待測載體連接，監(jiān)測組件與待測載體的連接，待測組件用于監(jiān)測待測載體兩端上電壓情況；所述充電組件用于與外界電源進行連接并進行充能，充電組件包括控制面板、控制器、充電電源和儲能電容；充電電源與儲能電容連接，所述控制面板與控制器連接；通過本方法可以快速得到待測載體的標準波形，并且能夠快速便捷的進行調(diào)節(jié)，提升了光電材料及器件沖擊的效率，并且本裝置可以美匹配各種類型的光電材料及器件的輸出波形要求，根據(jù)不同的待測載體材料進行調(diào)節(jié)，極大的降低了操作難度，提高了工作效率。