一種提升中子探測效率的轉(zhuǎn)換層

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110697767.4 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN113433583A 公開（公告）日 2021-09-24
申請公布號(hào) CN113433583A 申請公布日 2021-09-24
分類號(hào) G01T3/08（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 趙鑫;周睿;吳瑤;姚克義 申請（專利權(quán)）人 重慶建安儀器有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 重慶博凱知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉楨
地址 400060重慶市南岸區(qū)南坪西路168號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種提升中子探測效率的轉(zhuǎn)換層，包括入射層和出射層，所述入射層為平面結(jié)構(gòu)，所述出射層為均勻分布在入射層背離入射面的一側(cè)面上的若干圓錐形凸臺(tái)；所述凸臺(tái)的中心線垂直于入射層所在平面；所述轉(zhuǎn)換層采用含有氫元素的聚合物材料制成。本發(fā)明將轉(zhuǎn)換層的出射層表面設(shè)置成均勻分布的若干圓錐形凸臺(tái)，通過圓錐形凸臺(tái)來提高轉(zhuǎn)換層上供反沖質(zhì)子出射的有效面積，原本部分無法穿出的質(zhì)子現(xiàn)在可以穿過轉(zhuǎn)換層飛出，大大提升了探測器對中子的探測效率，并且，不會(huì)降低中子位置靈敏探測器對中子位置的分辨能力。