紅外圖像去除橫豎紋的方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210305485.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114627026A 公開（公告）日 2022-06-14
申請公布號 CN114627026A 申請公布日 2022-06-14
分類號 G06T5/00（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 黃晟;付航;黃超 申請（專利權(quán)）人 武漢高德智感科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳峰誠志合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 -
地址 430205湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)高新三路29號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝思t外圖像去除橫豎紋的方法、系統(tǒng)、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)，包括：對原始去橫豎紋算法進(jìn)行算法優(yōu)化，獲取優(yōu)化后去橫豎紋算法；通過ARM架構(gòu)中的NEON運算單元根據(jù)所述優(yōu)化后去橫豎紋算法對待處理紅外圖像進(jìn)行去除橫豎紋計算。不僅通過優(yōu)化原始去橫豎紋算法，降低了原始去橫豎紋算法中較影響計算速度的判斷計算，提高了運算效率，而且通過ARM架構(gòu)中的NEON運算單元執(zhí)行去橫豎紋算法，取代了原來需要的FPGA計算模塊，降低了設(shè)備的生產(chǎn)成本。