一種數(shù)字預失真信號反饋電路的測試方法、裝置及設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110281607.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113054919A 公開（公告）日 2021-06-29
申請公布號 CN113054919A 申請公布日 2021-06-29
分類號 H03F1/32 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 張振強;李俊 申請（專利權）人 成都德芯數(shù)字科技股份有限公司
代理機構 北京集佳知識產(chǎn)權代理有限公司 代理人 史翠
地址 610000 四川省成都市武侯區(qū)武興四路10號、12號（武侯新城管委會內(nèi)）
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種數(shù)字預失真信號反饋電路的測試方法、裝置、設備及計算機可讀存儲介質，通過在測定待測預失真激勵器的預失真信號輸出電路的傳輸質量合格后，控制待測預失真激勵器的預失真處理器工作于反饋直通輸出模式，而后利用待測預失真激勵器的整條回路測試待測預失真信號反饋電路的信號傳輸質量，具體通過對比輸入的第一測試信號和輸出的第一輸出信號來得到待測預失真信號反饋電路的測試結果，從而可以實時、快速地得到待測預失真信號反饋電路的信號傳輸質量，無需分別進行待測預失真信號反饋電路的各部分電路的測試、無需抓取測試數(shù)據(jù)導出進行離線分析，簡化了數(shù)字預失真信號反饋電路測試的流程，便于規(guī)模測試和生產(chǎn)。