一種RAM訪問驗(yàn)證方法、設(shè)備及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110431892.0 申請日 -
公開（公告）號 CN113126926A 公開（公告）日 2021-07-16
申請公布號 CN113126926A 申請公布日 2021-07-16
分類號 G06F3/06（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 劉雕 申請（專利權(quán)）人 北京物芯科技有限責(zé)任公司
代理機(jī)構(gòu) 北京睿陽聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 楊生平;王朋飛
地址 100089北京市海淀區(qū)知春路1號1幢15層1514室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種RAM訪問驗(yàn)證方法、設(shè)備及裝置，該方法通過根據(jù)邏輯訪問時序信號，執(zhí)行對RAM的邏輯訪問；將所述邏輯訪問時序信號、邏輯訪問的數(shù)據(jù)和地址，傳遞給封裝在RAM檢查組件中的抽象RAM接口；所述RAM檢查組件中的檢查函數(shù)通過所述抽象RAM接口的邏輯訪問時序信號，確定執(zhí)行邏輯訪問時，根據(jù)所述邏輯訪問的數(shù)據(jù)和地址判斷邏輯訪問是否正確，實(shí)現(xiàn)有效提高IC驗(yàn)證過程中驗(yàn)證的完備性、加速驗(yàn)證的收斂、加速項(xiàng)目迭代的速度的技術(shù)效果。