一種TO器件老化測試板

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202122382121.5 申請日 -
公開（公告）號 CN216485129U 公開（公告）日 2022-05-10
申請公布號 CN216485129U 申請公布日 2022-05-10
分類號 G01R1/04（2006.01）I;G01R1/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉建良;邱名武;韋國輝 申請（專利權(quán)）人 廈門三優(yōu)光電股份有限公司
代理機構(gòu) 廈門市天富勤知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 361000福建省廈門市火炬高新區(qū)創(chuàng)業(yè)園偉業(yè)樓N505室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型一種TO器件老化測試板，熱沉通過若干個支點懸空地架設(shè)在承載板上，在熱沉中部設(shè)有插槽，一感溫?zé)犭娕疾逯迷谠摬宀蹆?nèi)；采用上述方案后，本實用新型熱沉和芯片的溫度基本上保持一致，感溫?zé)犭娕疾逯迷跓岢羶?nèi)監(jiān)測熱沉的溫度，這樣可準(zhǔn)確控制芯片的老化溫度。