質譜分析裝置及制造方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201811601897.8 申請日 -
公開（公告）號 CN109686648A 公開（公告）日 2019-04-26
申請公布號 CN109686648A 申請公布日 2019-04-26
分類號 H01J49/06（2006.01）I; H01J49/00（2006.01）I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 聞路紅; 洪歡歡; 李文; 畢磊; 趙鵬; 史振志 申請（專利權）人 廣州市華粵行儀器有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 511446 廣東省廣州市番禺區(qū)南村鎮(zhèn)興南大道483號（辦公樓）三層B區(qū)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種質譜分析裝置及制造方法，所述質譜分析裝置包括大氣敞開式離子源、質譜進樣口；導電單元，所述導電單元設置在所述離子源和樣品之間，并接地；所述導電單元的中心軸線與所述離子源噴口的中心軸線共線；所述離子源出射的等離子體經過所述導電單元后轟擊樣品，所述質譜進樣口的中心軸線與轟擊點共線。本發(fā)明具有結構簡單、裝配準確、應用范圍廣等優(yōu)點。