一種晶圓片的研磨拋光方法以及相應(yīng)的晶圓片

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201811303290.1 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN109509701A 公開(kāi)(公告)日 2019-03-22
申請(qǐng)公布號(hào) CN109509701A 申請(qǐng)公布日 2019-03-22
分類號(hào) H01L21/02(2006.01)I; B24B37/04(2012.01)I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 熊帥; 王廣陽(yáng); 熊永華; 岳愛(ài)文 申請(qǐng)(專利權(quán))人 武漢電信器件有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市愛(ài)迪森知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 武漢電信器件有限公司
地址 430074 湖北省武漢市洪山區(qū)郵科院路88號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種晶圓片的研磨拋光方法以及相應(yīng)的晶圓片,該晶圓片的研磨拋光方法包括根據(jù)晶圓片的硬度,配置與所述晶圓片相匹配的研磨液;采用所述研磨液對(duì)所述晶圓片進(jìn)行研磨;采用化學(xué)方式對(duì)研磨后的晶圓片進(jìn)行拋光,以釋放由于研磨操作產(chǎn)生的應(yīng)力;對(duì)拋光后的晶圓片進(jìn)行清潔處理,得到研磨拋光后的晶圓片。本發(fā)明依據(jù)晶圓片的硬度配置合適的研磨液,以保證研磨的去除率,達(dá)到晶圓片減薄的效果,同時(shí),采用化學(xué)方式對(duì)晶圓片進(jìn)行拋光,釋放研磨過(guò)程中產(chǎn)生的應(yīng)力,保證晶圓片的平整度,并有效避免了晶圓片裂片情況的發(fā)生。