一種EEPROM芯片傳遞式測試方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010708698.8 申請日 -
公開（公告）號 CN111984478A 公開（公告）日 2020-11-24
申請公布號 CN111984478A 申請公布日 2020-11-24
分類號 G06F11/22(2006.01)I;G06F11/263(2006.01)I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 王銳;俞博文 申請（專利權(quán)）人 江蘇艾科半導(dǎo)體有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京申云知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 江蘇艾科半導(dǎo)體有限公司
地址 212000江蘇省鎮(zhèn)江市鎮(zhèn)江新區(qū)丁卯南緯四路36號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種EEPROM芯片傳遞式測試方法，單次并行測試n顆芯片，對第一個芯片進(jìn)行數(shù)據(jù)源的先寫后讀，讀出的數(shù)據(jù)由測試機(jī)寫入下一顆芯片并讀出，以此類推，數(shù)據(jù)總共進(jìn)行n?1次傳遞，然后將從第n顆芯片讀出的數(shù)據(jù)與PC機(jī)所給的源數(shù)據(jù)進(jìn)行對比。若對比結(jié)果一致，則所有n顆被測芯片功能均正常，此時只需對比一次，而現(xiàn)有技術(shù)的測試方法的對比次數(shù)與測試芯片的數(shù)量相同，需對比n次；若對比結(jié)果不一致，則將前n?1顆被測芯片的數(shù)據(jù)與源數(shù)據(jù)對比n?2次，找出所有不良品，現(xiàn)有測試過程中，對比不一致的概率很小。本發(fā)明還公開一種EEPROM芯片傳遞式測試系統(tǒng)。本發(fā)明縮短了測試機(jī)測試EPPROM讀寫功能的時間和數(shù)據(jù)對比的時間，測試效率大大提高。??