一種多SITELCD驅(qū)動(dòng)芯片檢測(cè)裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202020562929.4 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN212723220U 公開(公告)日 2021-03-16
申請(qǐng)公布號(hào) CN212723220U 申請(qǐng)公布日 2021-03-16
分類號(hào) G01R31/317(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 劉東明;俞博文 申請(qǐng)(專利權(quán))人 江蘇艾科半導(dǎo)體有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京申云知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 田沛沛;邱興天
地址 212000江蘇省鎮(zhèn)江市潘宗路166號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型公開一種多SITE LCD驅(qū)動(dòng)芯片檢測(cè)裝置,包括上位機(jī)、主控板、電源板和若干設(shè)置有待測(cè)LCD驅(qū)動(dòng)芯片的載板,所述主控板包括可編程邏輯器件、內(nèi)存單元、ADC模塊、模擬開關(guān)矩陣和USB總線芯片,對(duì)上位機(jī)傳輸?shù)目刂菩畔⑦M(jìn)行解析,啟動(dòng)模擬開關(guān)矩陣和ADC模塊進(jìn)行數(shù)據(jù)采集;將ADC模塊轉(zhuǎn)換完成的數(shù)據(jù)根據(jù)內(nèi)存分配存儲(chǔ)到內(nèi)存單元中;將內(nèi)存單元中的數(shù)字電平值進(jìn)行讀取,算法判定,核對(duì)每路波形BIAS與上位機(jī)設(shè)定值的一致性,將結(jié)果上傳至上位機(jī),判定芯片是否檢測(cè)成功;本實(shí)用新型可同時(shí)控制多SITE LCD驅(qū)動(dòng)芯片進(jìn)行全性能檢測(cè),使用方便,效率高。??