太陽能電池在真空粒子輻照環(huán)境下性能退化的原位測量系統(tǒng)及測量方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN200710195197.9 申請日 -
公開（公告）號 CN101452047B 公開（公告）日 2011-06-08
申請公布號 CN101452047B 申請公布日 2011-06-08
分類號 G01R31/265(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 劉宇明;馮偉泉;丁義剛;鄭慧奇;趙雪;曹大朋 申請（專利權(quán)）人 北京翔宇空間技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 100094 北京市海淀區(qū)友誼路104號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種太陽能電池性能退化的原位測量系統(tǒng)，包括靶室單元和性能測量單元；所述靶室單元包括真空腔、樣品臺及樣品臺移動裝置、光學(xué)玻璃窗和輻照源接口法蘭，樣品臺及樣品臺移動裝置設(shè)置在真空腔中部，真空腔底部設(shè)置有光學(xué)玻璃窗，真空腔上部設(shè)置有輻照源接口法蘭，并通過接口法蘭與輻照源相連；所述性能測量單元包括計算機控制系統(tǒng)、電信號采集測量系統(tǒng)和太陽能模擬器，計算機控制系統(tǒng)與電信號采集測量系統(tǒng)進行交互，并同時電連接到太陽能模擬器上，電信號采集測量系統(tǒng)電連接到真空腔內(nèi)的樣品上，并測量太陽能電池的電池性能。本發(fā)明的系統(tǒng)在輻照過程中不需要取出太陽能電池，克服了異位測量過程中因太陽電池在存放過程中產(chǎn)生的性能改變而帶來的測量誤差。