一種晶圓級封裝用鈦蝕刻液
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202011527044.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112725803A | 公開(公告)日 | 2021-04-30 |
申請公布號 | CN112725803A | 申請公布日 | 2021-04-30 |
分類號 | C23F1/38 | 分類 | 對金屬材料的鍍覆;用金屬材料對材料的鍍覆;表面化學處理;金屬材料的擴散處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學氣相沉積法的一般鍍覆;金屬材料腐蝕或積垢的一般抑制〔2〕; |
發(fā)明人 | 侯軍;武文東 | 申請(專利權(quán))人 | 江蘇奧首材料科技有限公司 |
代理機構(gòu) | 大連星海專利事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 楊翠翠 |
地址 | 116000 遼寧省大連市高新區(qū)高能街125號云計算中心 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種晶圓級封裝用鈦蝕刻液,其屬于蝕刻液的技術(shù)領(lǐng)域。該蝕刻液包括堿、硫酸鹽、氨基酸共聚物、烷基糖苷表面活性劑、有機膦系化合物、過氧化氫以及水。鈦蝕刻液中氨基酸共聚物屬多氨基、多羧基、多羥基的大分子聚合物,具有優(yōu)秀的絡(luò)合、吸附、分散等性能。良好的金屬離子絡(luò)合特性能夠?qū)⑽g刻液體系中的金屬離子掩蔽,降低金屬離子對過氧化氫的分解促進作用,從而提升蝕刻液體系的穩(wěn)定性,延長蝕刻液壽命。不僅降低了金屬的腐蝕,而且減少了側(cè)蝕,將臨界尺寸損失(CD?loss)控制在了200nm以內(nèi),為晶圓級封裝領(lǐng)域中超精細線路的制備提供了有效的技術(shù)支持。 |
