一種偏光膜卷材良率的模擬方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110406246.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN113155862A | 公開（公告）日 | 2021-07-23 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113155862A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-07-23 |
| 分類號(hào) | G01N21/95;G01N1/28;G01B11/00 | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 宋金波;嚴(yán)兵華;施明志;余鎮(zhèn)宇 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 恒美光電股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 蘇州威世朋知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 楊林潔 |
| 地址 | 215300 江蘇省蘇州市昆山經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)劍湖路111號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供一種偏光膜卷材良率的模擬方法，其主要用于生產(chǎn)偏光膜卷材時(shí)，通過自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)生成的缺點(diǎn)數(shù)據(jù)，根據(jù)缺點(diǎn)在卷材的位置，缺點(diǎn)尺寸和嚴(yán)重度等模擬計(jì)算出特定裁切片材偏光片的良品率。本發(fā)明具有的有益效果為：自動(dòng)模擬系統(tǒng)的良率準(zhǔn)確度高，可根據(jù)模擬良率數(shù)據(jù)改善裁切方式，規(guī)避缺點(diǎn)分布較多的邊側(cè)，為后段物料處理提供閃邊理論依據(jù)，有效提高實(shí)際產(chǎn)出的產(chǎn)品良率，同時(shí)與實(shí)際偏光膜的良率進(jìn)行匹配，促進(jìn)前后制程改善其制程工藝和操作手法，減少不必要的成品損失。 |
