一種單片硅基微壓傳感器及其制作方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN201810222541.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN108458820A | 公開(公告)日 | 2018-08-28 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN108458820A | 申請(qǐng)公布日 | 2018-08-28 |
分類號(hào) | G01L1/22 | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 沈紹群;羅小勇;阮炳權(quán) | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 廣東和宇傳感器有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | 廣東和宇傳感器有限公司;上海旦宇傳感器科技有限公司 |
地址 | 529100 廣東省江門市新會(huì)區(qū)會(huì)城西門路圭峰高科技園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種單片硅基微壓傳感器及其制作方法,通過在硅基片之中的腐蝕坑之中,制作背島結(jié)構(gòu),而在背島結(jié)構(gòu)之中,包括有用于穩(wěn)定測(cè)量的背島,相對(duì)于常見的厚度為400微米左右的微壓傳感器,本發(fā)明的背島的體積很小,而且背島底面與硅基片的邊框平面距離遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于5-10微米,所以,本發(fā)明的單片硅基微壓傳感器之中的背島不會(huì)受到硅基片的厚度限制,從而能夠提高產(chǎn)出率、降低成本;與傳統(tǒng)的E型結(jié)構(gòu)相比,更能夠克服大背島的自重效應(yīng),從而提高穩(wěn)定性;此外,還能夠避免出現(xiàn)背島與玻璃鍵合而導(dǎo)致器件失效的問題;另外,還能夠形成厚度一致性好、靈敏度一致性好的彈性硅膜,從而適宜于大規(guī)模生產(chǎn)。 |
