測量設備點檢方法及運行控制裝置、計算機可讀存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011463864.9 申請日 -
公開（公告）號 CN112577456B 公開（公告）日 2022-05-24
申請公布號 CN112577456B 申請公布日 2022-05-24
分類號 G01B21/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 周雪斌;萬海林;方掙掙 申請（專利權）人 欣旺達電子股份有限公司
代理機構 廣州嘉權專利商標事務所有限公司 代理人 -
地址 518000廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道石龍社區(qū)頤和路2號綜合樓1樓、2樓A-B區(qū)、2樓D區(qū)-9樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種測量設備點檢方法，其特征在于，包括以下步驟：獲取若干級判定物料組；獲取判定物料組的每一判定物料的測量值；將每一測量值與初測值數(shù)據(jù)庫進行匹配，獲取每一判定物料的單點偏差率；根據(jù)每一判定物料的單點偏差率，獲取第一平均偏差率；根據(jù)第一平均偏差率，確定測量設備的準確性；若第一平均偏差率不在預設范圍，獲取下一級判定物料組的第二平均偏差率；根據(jù)第二平均偏差率，確定測量設備的準確性。通過本發(fā)明的測量設備點檢方法無需制作仿形標定塊，直接采用判定物料組進行點檢，減少標定塊的制作成本與工時，同時能快速準確地得到點檢結果；同時測量多個判定物料進行點檢，節(jié)省時間，提升點檢效率。