測(cè)量設(shè)備點(diǎn)檢方法及運(yùn)行控制裝置、計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011463864.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112577456B | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-05-24 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112577456B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-05-24 |
| 分類號(hào) | G01B21/00（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 周雪斌;萬(wàn)海林;方掙掙 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 欣旺達(dá)電子股份有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 廣州嘉權(quán)專利商標(biāo)事務(wù)所有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518000廣東省深圳市寶安區(qū)石巖街道石龍社區(qū)頤和路2號(hào)綜合樓1樓、2樓A-B區(qū)、2樓D區(qū)-9樓 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)量設(shè)備點(diǎn)檢方法，其特征在于，包括以下步驟：獲取若干級(jí)判定物料組；獲取判定物料組的每一判定物料的測(cè)量值；將每一測(cè)量值與初測(cè)值數(shù)據(jù)庫(kù)進(jìn)行匹配，獲取每一判定物料的單點(diǎn)偏差率；根據(jù)每一判定物料的單點(diǎn)偏差率，獲取第一平均偏差率；根據(jù)第一平均偏差率，確定測(cè)量設(shè)備的準(zhǔn)確性；若第一平均偏差率不在預(yù)設(shè)范圍，獲取下一級(jí)判定物料組的第二平均偏差率；根據(jù)第二平均偏差率，確定測(cè)量設(shè)備的準(zhǔn)確性。通過(guò)本發(fā)明的測(cè)量設(shè)備點(diǎn)檢方法無(wú)需制作仿形標(biāo)定塊，直接采用判定物料組進(jìn)行點(diǎn)檢，減少標(biāo)定塊的制作成本與工時(shí)，同時(shí)能快速準(zhǔn)確地得到點(diǎn)檢結(jié)果；同時(shí)測(cè)量多個(gè)判定物料進(jìn)行點(diǎn)檢，節(jié)省時(shí)間，提升點(diǎn)檢效率。 |
