一種由色差引起的結(jié)構(gòu)光三維測量誤差的補償方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011495351.6 申請日 -
公開(公告)號 CN112444212A 公開(公告)日 2021-03-05
申請公布號 CN112444212A 申請公布日 2021-03-05
分類號 G01B11/25(2006.01)I;G06T5/00(2006.01)I 分類 測量;測試;
發(fā)明人 冉祥;陳小川 申請(專利權(quán))人 北京微鏈道愛科技有限公司
代理機構(gòu) 北京盛凡智榮知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王光建
地址 102300北京市門頭溝區(qū)石龍經(jīng)濟開發(fā)區(qū)永安路20號3號樓A-6099室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種由色差引起的結(jié)構(gòu)光三維測量誤差的補償方法,通過投影三維測量計算出場景的對比度;計算出平行于基線方向的場景對比度梯度,完成歸一化;將歸一化后的對比度梯度值乘以用戶定義的參數(shù);將對比度梯度拆分為正對比度梯度和負對比度梯度,正對比度梯度部分向左平移,負對比度梯度部分向右平移;用相位計算的去包裹的相位值減去上一步得到的對比度梯度,實現(xiàn)誤差補償;補償后的相位進行后續(xù)三維重建,計算得到的點云將不存在由色差引起的測量誤差。本發(fā)明與現(xiàn)有技術相比的優(yōu)點在于:可以消除這種由色差引起的在物體對比度邊界區(qū)域的測量誤差,同時誤差補償?shù)挠嬎惴浅5暮唵危m用于工業(yè)界快速三維測量,并且適用于并行計算加速。??