一種DFT測試裝置、測試系統(tǒng)以及測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210090568.1 申請日 -
公開（公告）號 CN114113989A 公開（公告）日 2022-03-01
申請公布號 CN114113989A 申請公布日 2022-03-01
分類號 G01R31/317（2006.01）I;G01R31/3177（2006.01）I;G01R31/3185（2006.01）I;G01R31/319（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李仲勛;劉彬斌 申請（專利權(quán)）人 成都愛旗科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京知迪知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王勝利
地址 610017四川省成都市中國（四川）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)成都高新區(qū)天華二路219號C12棟17層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種提供一種DFT測試裝置、測試系統(tǒng)以及測試方法，涉及數(shù)字電路技術(shù)領(lǐng)域，能夠在不損失測試覆蓋率的前提下，減少DFT測試的功耗。所述DFT測試裝置包括：輸入寄存單元、獨(dú)熱碼發(fā)生器、多個第一數(shù)據(jù)選擇器以及多個時鐘門控器。輸入寄存單元的輸出端與獨(dú)熱碼發(fā)生器的輸入端電連接，獨(dú)熱碼發(fā)生器的多個輸出端分別與多個第一數(shù)據(jù)選擇器的第一輸入端一一對應(yīng)電連接。多個第一數(shù)據(jù)選擇器的選擇端，以及多個第一數(shù)據(jù)選擇器的第二輸入端均與外部掃描使能信號端電連接，多個第一數(shù)據(jù)選擇器的輸出端與多個時鐘門控器的測試使能端電連接。多個時鐘門控器的使能端均與同一外部功能邏輯信號端電連接。