一種DFT測(cè)試裝置、測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210090568.1 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN114113989A | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-03-01 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN114113989A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-01 |
| 分類號(hào) | G01R31/317（2006.01）I;G01R31/3177（2006.01）I;G01R31/3185（2006.01）I;G01R31/319（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 李仲勛;劉彬斌 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 成都愛(ài)旗科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京知迪知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 王勝利 |
| 地址 | 610017四川省成都市中國(guó)（四川）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)成都高新區(qū)天華二路219號(hào)C12棟17層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)一種提供一種DFT測(cè)試裝置、測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試方法，涉及數(shù)字電路技術(shù)領(lǐng)域，能夠在不損失測(cè)試覆蓋率的前提下，減少DFT測(cè)試的功耗。所述DFT測(cè)試裝置包括：輸入寄存單元、獨(dú)熱碼發(fā)生器、多個(gè)第一數(shù)據(jù)選擇器以及多個(gè)時(shí)鐘門(mén)控器。輸入寄存單元的輸出端與獨(dú)熱碼發(fā)生器的輸入端電連接，獨(dú)熱碼發(fā)生器的多個(gè)輸出端分別與多個(gè)第一數(shù)據(jù)選擇器的第一輸入端一一對(duì)應(yīng)電連接。多個(gè)第一數(shù)據(jù)選擇器的選擇端，以及多個(gè)第一數(shù)據(jù)選擇器的第二輸入端均與外部掃描使能信號(hào)端電連接，多個(gè)第一數(shù)據(jù)選擇器的輸出端與多個(gè)時(shí)鐘門(mén)控器的測(cè)試使能端電連接。多個(gè)時(shí)鐘門(mén)控器的使能端均與同一外部功能邏輯信號(hào)端電連接。 |
