一種DFT測(cè)試裝置、測(cè)試系統(tǒng)及DFT測(cè)試方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110775080.8 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN113238143B | 公開（公告）日 | 2021-11-12 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113238143B | 申請(qǐng)公布日 | 2021-11-12 |
| 分類號(hào) | G01R31/28（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 李仲勛 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 成都愛旗科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京知迪知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 王勝利 |
| 地址 | 610094四川省成都市中國（四川）自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)成都高新區(qū)天華二路219號(hào)C12棟17層 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開一種DFT測(cè)試裝置、測(cè)試系統(tǒng)及DFT測(cè)試方法，涉及芯片測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域，以解決采用增加測(cè)試向量數(shù)目，來解決損失測(cè)試覆蓋率的問題時(shí)，會(huì)導(dǎo)致測(cè)試效率降低的技術(shù)問題。DFT測(cè)試裝置包括：控制單元和時(shí)鐘門控單元?？刂茊卧妮斎攵伺c掃描使能信號(hào)端電連接，輸出端與時(shí)鐘門控單元的測(cè)試使能端電連接，時(shí)鐘門控單元的使能端與功能邏輯信號(hào)端電連接。移位階段，向控制單元提供第一信號(hào)，控制單元輸出第一控制信號(hào)控制時(shí)鐘門控單元打開。捕獲階段，向控制單元提供第二信號(hào)，控制單元輸出的第二控制信號(hào)和功能邏輯信號(hào)控制時(shí)鐘門控單元打開或關(guān)閉。測(cè)試系統(tǒng)包括上述技術(shù)方案所提的DFT測(cè)試裝置。本發(fā)明的DFT測(cè)試裝置用于芯片測(cè)試。 |
