一種DFT測試裝置、測試系統(tǒng)及DFT測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110775080.8 申請日 -
公開（公告）號 CN113238143B 公開（公告）日 2021-11-12
申請公布號 CN113238143B 申請公布日 2021-11-12
分類號 G01R31/28（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李仲勛 申請（專利權(quán)）人 成都愛旗科技有限公司
代理機構(gòu) 北京知迪知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王勝利
地址 610094四川省成都市中國（四川）自由貿(mào)易試驗區(qū)成都高新區(qū)天華二路219號C12棟17層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種DFT測試裝置、測試系統(tǒng)及DFT測試方法，涉及芯片測試技術(shù)領(lǐng)域，以解決采用增加測試向量數(shù)目，來解決損失測試覆蓋率的問題時，會導致測試效率降低的技術(shù)問題。DFT測試裝置包括：控制單元和時鐘門控單元?？刂茊卧妮斎攵伺c掃描使能信號端電連接，輸出端與時鐘門控單元的測試使能端電連接，時鐘門控單元的使能端與功能邏輯信號端電連接。移位階段，向控制單元提供第一信號，控制單元輸出第一控制信號控制時鐘門控單元打開。捕獲階段，向控制單元提供第二信號，控制單元輸出的第二控制信號和功能邏輯信號控制時鐘門控單元打開或關(guān)閉。測試系統(tǒng)包括上述技術(shù)方案所提的DFT測試裝置。本發(fā)明的DFT測試裝置用于芯片測試。