顯示面板殘影檢測(cè)方法以及檢測(cè)裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202010276323.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN111341233B | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-03-22 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN111341233B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-22 |
| 分類(lèi)號(hào) | G09G3/00（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I | 分類(lèi) | 教育；密碼術(shù)；顯示；廣告；印鑒; |
| 發(fā)明人 | 黃志娟;王志祥 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 昆山國(guó)顯光電有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京東方億思知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 娜拉 |
| 地址 | 215300江蘇省蘇州市昆山市開(kāi)發(fā)區(qū)龍騰路1號(hào)4幢 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種顯示面板殘影檢測(cè)方法以及檢測(cè)裝置，顯示面板殘影檢測(cè)方法包括：控制待測(cè)顯示面板顯示棋盤(pán)格畫(huà)面，棋盤(pán)格畫(huà)面包括矩陣排列的多個(gè)純色子畫(huà)面，相鄰兩個(gè)純色子畫(huà)面的灰階分別為第一灰階和第二灰階；在棋盤(pán)格畫(huà)面顯示第一預(yù)定時(shí)長(zhǎng)后，控制待測(cè)顯示面板顯示預(yù)定灰階的檢測(cè)畫(huà)面；控制參照顯示面板顯示標(biāo)定畫(huà)面，標(biāo)定畫(huà)面包括矩陣排列且相互交替的多個(gè)第一矩陣圖片和多個(gè)第二矩陣圖片，第一矩陣圖片的灰階與預(yù)定灰階相同，第二矩陣圖片的灰階包括與預(yù)定灰階相同的第三灰階和與預(yù)定灰階不同的第四灰階；比對(duì)檢測(cè)畫(huà)面和標(biāo)定畫(huà)面，以得到待測(cè)顯示面板的殘影程度。本發(fā)明提供的顯示面板殘影檢測(cè)方法能夠提高對(duì)顯示面板殘影檢測(cè)的準(zhǔn)確性。 |
