一種利用近紅外光譜法鑒定印章印跡的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201610370963.X 申請日 -
公開（公告）號 CN106092956A 公開（公告）日 2016-11-09
申請公布號 CN106092956A 申請公布日 2016-11-09
分類號 G01N21/359(2014.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張卓勇;陳澤煒;張欣 申請（專利權(quán)）人 北京遠大恒通科技發(fā)展有限公司
代理機構(gòu) 北京三聚陽光知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李敏
地址 100048 北京市海淀區(qū)西三環(huán)北路105號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明具體涉及一種利用近紅外光譜法鑒定印章印跡的方法。本發(fā)明利用近紅外光譜法對文本或字畫的印章印跡進行鑒定，整個鑒定過程不需要對待鑒定樣品進行前處理，只需對待鑒定印章采集近紅外光譜，不破壞待鑒定樣品，具有操作簡便、對樣品無損、鑒定快速等特點；此外，本發(fā)明利用近紅外光譜法鑒定印章印跡的方法，結(jié)合聚類分析法，通過計算待鑒定印章和已經(jīng)考證年代的印章之間的距離或相似度，進而推斷待鑒定印章的所屬時代信息；結(jié)果表明，該方法鑒定準確度較高。