一種利用近紅外光譜法鑒定印章印跡的方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201610370963.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN106092956A 公開（公告）日 2016-11-09
申請(qǐng)公布號(hào) CN106092956A 申請(qǐng)公布日 2016-11-09
分類號(hào) G01N21/359(2014.01)I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 張卓勇;陳澤煒;張欣 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京遠(yuǎn)大恒通科技發(fā)展有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京三聚陽光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李敏
地址 100048 北京市海淀區(qū)西三環(huán)北路105號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明具體涉及一種利用近紅外光譜法鑒定印章印跡的方法。本發(fā)明利用近紅外光譜法對(duì)文本或字畫的印章印跡進(jìn)行鑒定，整個(gè)鑒定過程不需要對(duì)待鑒定樣品進(jìn)行前處理，只需對(duì)待鑒定印章采集近紅外光譜，不破壞待鑒定樣品，具有操作簡(jiǎn)便、對(duì)樣品無損、鑒定快速等特點(diǎn)；此外，本發(fā)明利用近紅外光譜法鑒定印章印跡的方法，結(jié)合聚類分析法，通過計(jì)算待鑒定印章和已經(jīng)考證年代的印章之間的距離或相似度，進(jìn)而推斷待鑒定印章的所屬時(shí)代信息；結(jié)果表明，該方法鑒定準(zhǔn)確度較高。