一種用于數(shù)字基帶環(huán)回測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201720567383.X 申請日 -
公開（公告）號 CN206879107U 公開（公告）日 2018-01-12
申請公布號 CN206879107U 申請公布日 2018-01-12
分類號 H04W24/06;H04B17/00 分類 電通信技術(shù);
發(fā)明人 李科奕;侯斌 申請（專利權(quán)）人 無錫德思普科技有限公司
代理機構(gòu) 北京科家知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 陳娟
地址 214000 江蘇省無錫市新吳區(qū)太湖國際科技園大學科技園清源路530大廈A801號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了數(shù)字基帶環(huán)回測試技術(shù)領(lǐng)域的一種用于數(shù)字基帶環(huán)回測試裝置，包括第一SB3500芯片模塊、同步晶振模塊、緩存模塊、第二SB3500芯片模塊、電源模塊和通信模塊，所述第一SB3500芯片模塊分別電性雙向連接同步晶振模塊和緩存模塊，所述同步晶振模塊和緩存模塊均電性雙向連接第二SB3500芯片模塊，本實用新型基于SB3500的數(shù)字基帶環(huán)回測試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)簡單，使用方便，有效解決純數(shù)字基帶環(huán)回測試驗證，本實用新型主要為數(shù)字基帶環(huán)回實現(xiàn)搭建一個測試裝置，實現(xiàn)由軟件仿真到硬件驗證，并且避開除數(shù)字基帶以外的干擾因素，具有真實可靠性。