晶圓定位裝置與方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201911387418.1 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113130362A | 公開(公告)日 | 2021-07-16 |
申請公布號 | CN113130362A | 申請公布日 | 2021-07-16 |
分類號 | H01L21/68(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 李旻旭;楊宏超;王堅;王暉 | 申請(專利權)人 | 盛美半導體設備(上海)股份有限公司 |
代理機構 | 上海光華專利事務所(普通合伙) | 代理人 | 余明偉 |
地址 | 201203上海市浦東新區(qū)中國(上海)自由貿(mào)易試驗區(qū)蔡倫路1690號第4幢 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供了一種晶圓定位裝置與方法,該裝置包括:用于承載并固定晶圓于設定位置的晶圓承載平臺;包括發(fā)射端和接收端的探測器,其發(fā)射端與接收端連線位于平行設定位置平面的上方;連接并驅(qū)動晶圓承載平臺或探測器的驅(qū)動模塊,其使發(fā)射端與接收端連線在平行設定位置平面上方的平面內(nèi)與晶圓承載平臺相對運動;連接探測器并根據(jù)光信號變化判斷晶圓是否準確固定于設定位置的判斷模塊。本發(fā)明通過使探測器與晶圓平臺相對運動,使探測器動態(tài)監(jiān)測晶圓表面,以判斷晶圓是否準確固定于設定位置。本發(fā)明能夠全面地覆蓋晶圓可能發(fā)生偏離的區(qū)域,避免發(fā)生漏檢;而通過更全面的監(jiān)測,也避免了現(xiàn)有技術中因?qū)τ邢迏^(qū)域設置過于嚴格的監(jiān)測范圍而導致的誤報警。 |
