一種點陣測距機構

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202022721715.X 申請日 -
公開（公告）號 CN213932441U 公開（公告）日 2021-08-10
申請公布號 CN213932441U 申請公布日 2021-08-10
分類號 G01B21/08（2006.01）I;G01B21/30（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李駿棋;鐘俊超;卓炎 申請（專利權）人 佛山宇仁智能科技有限公司
代理機構 佛山幫專知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 顏春艷
地址 528200廣東省佛山市南海區(qū)獅山鎮(zhèn)塘頭村委會地段塘頭工業(yè)園自編1號廠房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提出了一種點陣測距機構，包括測距臺，測距臺上設有若干個通孔；若干通孔上均活動設置有用于測距工件上表面的測距模塊；若干通孔和測距模塊在測距臺上呈陣列分布。通過測距模塊陣列分布就可以起到對工件上表面進行多點測距操作的作用，對工件的上表面進行多點測距，就能夠實現(xiàn)對工件的精準測距的目的。進而實現(xiàn)測距工件上表面的測距目的，提高工件上表面的測距效率，從而有效減少對其他已完成打印工序的工件區(qū)域的工藝溫度的影響，進而確保了產(chǎn)品質量，準確測量到工件的表面的距離。