一種半導體功率器件測試的裝置
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN202021587744.5 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN212872754U | 公開（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申請公布號 | CN212872754U | 申請公布日 | 2021-04-02 |
| 分類號 | G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 王玉桃 | 申請（專利權）人 | 常州銀河世紀微電子股份有限公司 |
| 代理機構 | 常州市科誼專利代理事務所 | 代理人 | 孫彬 |
| 地址 | 213022江蘇省常州市新北區(qū)長江北路19號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實用新型公開了一種半導體功率器件測試的裝置，它包括大板、器件承載板、活動支架和探針組件，所述大板的中部開設有滑槽，所述器件承載板可在滑槽中移動，所述滑槽的兩側分別設置有支撐桿，所述活動支架套設在支撐桿上并可在支撐桿上滑動，所述支撐桿上套設有彈簧，所述彈簧的一端抵接在大板上，所述彈簧的另一端抵接在活動支架上，所述探針組件固定在活動支架的與大板相對的一面。本實用新型提供一種半導體功率器件測試的裝置，它可以提高傳統(tǒng)測試的準確性，提高工作效率。?? |
