自動(dòng)檢測(cè)裝置及半導(dǎo)體處理系統(tǒng)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202123031851.7 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN216793618U | 公開(公告)日 | 2022-06-21 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN216793618U | 申請(qǐng)公布日 | 2022-06-21 |
分類號(hào) | H01L21/66(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 沈愛華 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 無錫華瑛微電子技術(shù)有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 蘇州簡(jiǎn)理知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | - |
地址 | 214000江蘇省無錫市新區(qū)震澤路18號(hào)國(guó)家軟件園3期鯨魚座A棟1樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實(shí)用新型提供了一種自動(dòng)檢測(cè)裝置及半導(dǎo)體處理系統(tǒng)。所述自動(dòng)檢測(cè)裝置包括:旋轉(zhuǎn)裝置,其能夠承載半導(dǎo)體晶圓并帶動(dòng)所述半導(dǎo)體晶圓沿旋轉(zhuǎn)中心進(jìn)行旋轉(zhuǎn);對(duì)齊裝置,用于確保半導(dǎo)體晶圓的中心與所述旋轉(zhuǎn)裝置的旋轉(zhuǎn)中心的同心度;線掃描相機(jī),用于對(duì)準(zhǔn)所述半導(dǎo)體晶圓的邊緣并在所述半導(dǎo)體晶圓旋轉(zhuǎn)過程中通過線掃描方式采集圖像,在采集的圖像達(dá)到預(yù)定高度時(shí)停止;與所述線掃描相機(jī)電性連接的圖像處理單元,用于對(duì)采集的圖像的特定區(qū)域進(jìn)行邊緣識(shí)別以得到表示腐蝕邊緣的第一直線和表示晶圓邊緣的第二直線。這樣可以對(duì)半導(dǎo)體晶圓的腐蝕邊緣進(jìn)行快速的、在線的、自動(dòng)的檢測(cè),速度快、成本低。 |
