一種缺陷分類模型的生成方法、分類方法及終端設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011608226.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN114757871A 公開（公告）日 2022-07-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN114757871A 申請(qǐng)公布日 2022-07-15
分類號(hào) G06T7/00（2017.01）I;G06T7/62（2017.01）I;G06T7/11（2017.01）I;G06T5/00（2006.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06V10/762（2022.01）I;G06V10/82（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I;G06V10/774（2022.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 謝艦 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 TCL科技集團(tuán)股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市君勝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 516006廣東省惠州市仲愷高新區(qū)惠風(fēng)三路17號(hào)TCL科技大廈
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開了一種缺陷分類模型的生成方法、分類方法及終端設(shè)備，所述方法包括基于預(yù)設(shè)面板集對(duì)預(yù)設(shè)網(wǎng)絡(luò)模型進(jìn)行訓(xùn)練，以得到第一分類模型；基于第一分類模型去除預(yù)設(shè)面板集中的噪聲圖像以得到目標(biāo)面板集；基于目標(biāo)面板集及初始面板集對(duì)第二分類模型進(jìn)行訓(xùn)練以得到缺陷分類模型。本申請(qǐng)通過標(biāo)注有缺陷類別的預(yù)設(shè)面板集訓(xùn)練第一分類模型，通過第一分類模型去除預(yù)設(shè)面板集中的噪聲圖像，并采用去除噪聲圖像的預(yù)設(shè)面板集對(duì)第二分類模型進(jìn)行訓(xùn)練，實(shí)現(xiàn)了采用具有噪聲圖像的面板圖像對(duì)缺陷分類模型進(jìn)行訓(xùn)練，無(wú)需對(duì)面板圖像的標(biāo)注進(jìn)行復(fù)核，降低了缺陷分類模型訓(xùn)練的人工成本。