一種功能測(cè)試方法、裝置、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110873758.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113515460A 公開(kāi)（公告）日 2021-10-19
申請(qǐng)公布號(hào) CN113515460A 申請(qǐng)公布日 2021-10-19
分類號(hào) G06F11/36（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 黃新化 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 深圳康佳電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市君勝知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 徐凱凱
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道科技園科技南十二路28號(hào)康佳研發(fā)大廈15層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開(kāi)了一種功能測(cè)試方法、裝置、終端設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，所述方法包括：確定待測(cè)試設(shè)備的待測(cè)試功能；基于所述待測(cè)試功能確定相對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令；將所述測(cè)試指令發(fā)送至所述待測(cè)試設(shè)備，并控制所述待測(cè)試設(shè)備根據(jù)所述測(cè)試指令進(jìn)行功能測(cè)試。本申請(qǐng)可以根據(jù)待測(cè)試功能確定相對(duì)應(yīng)的測(cè)試指令，通過(guò)測(cè)試指令控制待測(cè)試設(shè)備對(duì)待測(cè)試功能進(jìn)行測(cè)試，從而實(shí)現(xiàn)對(duì)多種不同的待測(cè)試設(shè)備進(jìn)行測(cè)試，使得測(cè)試方法能夠面向大多數(shù)設(shè)備。