一種功能測試方法、裝置、終端設(shè)備及存儲介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110873758.6 申請日 -
公開（公告）號 CN113515460A 公開（公告）日 2021-10-19
申請公布號 CN113515460A 申請公布日 2021-10-19
分類號 G06F11/36（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 黃新化 申請（專利權(quán)）人 深圳康佳電子科技有限公司
代理機構(gòu) 深圳市君勝知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 徐凱凱
地址 518000廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道科技園科技南十二路28號康佳研發(fā)大廈15層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種功能測試方法、裝置、終端設(shè)備及存儲介質(zhì)，所述方法包括：確定待測試設(shè)備的待測試功能；基于所述待測試功能確定相對應(yīng)的測試指令；將所述測試指令發(fā)送至所述待測試設(shè)備，并控制所述待測試設(shè)備根據(jù)所述測試指令進行功能測試。本申請可以根據(jù)待測試功能確定相對應(yīng)的測試指令，通過測試指令控制待測試設(shè)備對待測試功能進行測試，從而實現(xiàn)對多種不同的待測試設(shè)備進行測試，使得測試方法能夠面向大多數(shù)設(shè)備。