GaN功率器件靜態(tài)參數(shù)的自動測試系統(tǒng)及其測試方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110429972.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113189467A | 公開(公告)日 | 2021-07-30 |
申請公布號 | CN113189467A | 申請公布日 | 2021-07-30 |
分類號 | G01R31/26(2014.01)I;G01R31/01(2020.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 陳麗萍;柳永勝;陳輝;程新 | 申請(專利權(quán))人 | 蘇州英嘉通半導(dǎo)體有限公司 |
代理機構(gòu) | 南京聚匠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 劉囝 |
地址 | 215100江蘇省蘇州市相城區(qū)青龍港路66號領(lǐng)寓商務(wù)廣場1棟705/706室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明公開了一種GaN功率器件靜態(tài)參數(shù)的自動測試系統(tǒng)及其測試方法,包括依次串聯(lián)連接的測試板、測試儀器、串口和上位機,測試儀器接收串口傳輸?shù)男盘?,并根?jù)接收的信號信息提供給測試板對應(yīng)的電壓、電流;同時對測試板的輸出電壓、電流信號進(jìn)行測量,并將測量結(jié)果輸送至串口;測試板在測試儀器提供的電壓、電流下工作,工作完成后的輸出結(jié)果由測試儀器進(jìn)行測量;上位機通過串口控制測試儀器的輸出電壓、電流,并讀取測試儀器的輸入電壓、電流進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和顯示。本發(fā)明可避免在測試多個參數(shù)時逐個手動更改測試儀器參數(shù)設(shè)置,避免人工記錄測試數(shù)據(jù),同時對測試結(jié)果的正確與否可以進(jìn)行直觀的顯示,大大提升了測試效率,減少人為誤操作。 |
