一種用于芯片模擬參數(shù)校準(zhǔn)的裝置及其測(cè)試方法
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011432669.X | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112557876A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-03-26 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112557876A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-26 |
| 分類號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 陳麗萍;陳輝;柳永勝;胡峰;白強(qiáng);唐瑜;吳文英;于潔 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 蘇州英嘉通半導(dǎo)體有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 南京聚匠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 劉囝 |
| 地址 | 215100江蘇省蘇州市相城區(qū)青龍港路66號(hào)領(lǐng)寓商務(wù)廣場(chǎng)1905室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種用于芯片模擬參數(shù)校準(zhǔn)的裝置及其測(cè)試方法，包括用于對(duì)待校準(zhǔn)芯片進(jìn)行校準(zhǔn)的測(cè)試機(jī)，所述測(cè)試機(jī)包括用于獲取待校準(zhǔn)芯片模擬參數(shù)的測(cè)試單元、數(shù)據(jù)處理單元和通信端口A，所述數(shù)據(jù)處理單元與測(cè)試單元、通信端口A連接。本發(fā)明通過(guò)兩次測(cè)量結(jié)果計(jì)算出待校準(zhǔn)參數(shù)相鄰校準(zhǔn)寄存器對(duì)應(yīng)的模擬量間差值的大小，從而確認(rèn)待校準(zhǔn)參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)值對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)寄存器的預(yù)估值，大大縮小了校準(zhǔn)測(cè)試區(qū)間范圍，即減少了測(cè)試時(shí)間；同時(shí)為避免測(cè)量的誤差導(dǎo)致待校準(zhǔn)參數(shù)標(biāo)準(zhǔn)值對(duì)應(yīng)的校準(zhǔn)寄存器預(yù)估值的計(jì)算偏差，靈活的選擇遍歷校準(zhǔn)測(cè)試區(qū)間，確保正確的待校準(zhǔn)芯片能夠校準(zhǔn)到，且將芯片的待校準(zhǔn)參數(shù)校準(zhǔn)到最接近標(biāo)準(zhǔn)值，保證待校準(zhǔn)芯片的校準(zhǔn)一致性。?? |
