一種通過AD轉(zhuǎn)換結(jié)果進行選擇的測試開發(fā)方法和裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011421232.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112557875A 公開（公告）日 2021-03-26
申請公布號 CN112557875A 申請公布日 2021-03-26
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳麗萍;陳輝;柳永勝;胡峰;白強;唐瑜;吳文英;于潔 申請（專利權(quán)）人 蘇州英嘉通半導(dǎo)體有限公司
代理機構(gòu) 南京聚匠知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 劉囝
地址 215100江蘇省蘇州市相城區(qū)青龍港路66號領(lǐng)寓商務(wù)廣場1905室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種通過AD轉(zhuǎn)換結(jié)果進行選擇的測試開發(fā)方法和裝置，包括用于對待測試芯片進行測試的測試機，所述測試機包括用于為待測試芯片供電的電壓提供單元、測量單元和數(shù)據(jù)處理單元，所述測試單元與數(shù)據(jù)處理單元連接；所述電壓提供單元與待測試芯片的ADC輸入端口連接，所述測試單元與待測試芯片的測試端口連接。本發(fā)明有效利用目前市面上大部分的數(shù)字、模擬或數(shù)?；旌闲酒袃?nèi)部ADC模塊和存儲單元這一特性，提高量產(chǎn)測試的開發(fā)便利性，降低量產(chǎn)測試成本。??