一種通過(guò)AD轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行選擇的測(cè)試開(kāi)發(fā)方法和裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011421232.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN112557875A | 公開(kāi)（公告）日 | 2021-03-26 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112557875A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-03-26 |
| 分類(lèi)號(hào) | G01R31/28(2006.01)I | 分類(lèi) | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 陳麗萍;陳輝;柳永勝;胡峰;白強(qiáng);唐瑜;吳文英;于潔 | 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 | 蘇州英嘉通半導(dǎo)體有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 南京聚匠知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 劉囝 |
| 地址 | 215100江蘇省蘇州市相城區(qū)青龍港路66號(hào)領(lǐng)寓商務(wù)廣場(chǎng)1905室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種通過(guò)AD轉(zhuǎn)換結(jié)果進(jìn)行選擇的測(cè)試開(kāi)發(fā)方法和裝置，包括用于對(duì)待測(cè)試芯片進(jìn)行測(cè)試的測(cè)試機(jī)，所述測(cè)試機(jī)包括用于為待測(cè)試芯片供電的電壓提供單元、測(cè)量單元和數(shù)據(jù)處理單元，所述測(cè)試單元與數(shù)據(jù)處理單元連接；所述電壓提供單元與待測(cè)試芯片的ADC輸入端口連接，所述測(cè)試單元與待測(cè)試芯片的測(cè)試端口連接。本發(fā)明有效利用目前市面上大部分的數(shù)字、模擬或數(shù)模混合芯片均有內(nèi)部ADC模塊和存儲(chǔ)單元這一特性，提高量產(chǎn)測(cè)試的開(kāi)發(fā)便利性，降低量產(chǎn)測(cè)試成本。?? |
