射頻裸晶片測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202111495073.9 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN113903675A 公開(kāi)（公告）日 2022-01-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN113903675A 申請(qǐng)公布日 2022-01-07
分類號(hào) H01L21/66（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I;G01R31/26（2014.01）I 分類 基本電氣元件;
發(fā)明人 倪衛(wèi)華;鄭朝暉 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 江山季豐電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 劉桐亞
地址 324199浙江省衢州市江山市文教西路15號(hào)科技孵化中心5樓
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種射頻裸晶片測(cè)試系統(tǒng)和測(cè)試方法，涉及晶片測(cè)試的技術(shù)領(lǐng)域，射頻裸晶片測(cè)試系統(tǒng)包括：電源設(shè)備、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、控制信號(hào)發(fā)射主板、上位機(jī)、預(yù)設(shè)COB板和多個(gè)射頻探針。該測(cè)試系統(tǒng)將射頻探針和COB技術(shù)相結(jié)合，將待測(cè)射頻裸晶片的低頻引腳從探針的連接方式改為打線連接方式，降低了測(cè)試系統(tǒng)中探針的使用數(shù)量，從而極大地減少了探針的操作時(shí)間，提高了射頻裸晶片的測(cè)試效率，同時(shí)也提高了測(cè)試系統(tǒng)的穩(wěn)定性。