高溫環(huán)境下基于超聲導(dǎo)波技術(shù)的承壓設(shè)備缺陷探測裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202121719352.4 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN217007112U | 公開(公告)日 | 2022-07-19 |
申請公布號 | CN217007112U | 申請公布日 | 2022-07-19 |
分類號 | G01N29/04(2006.01)I;G01N29/22(2006.01)I;G01L25/00(2006.01)I;G01L27/00(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 鄧晶晶;劉暢;秦炎鋒;李晨;張鍇;賀寅彪 | 申請(專利權(quán))人 | 上海核工程研究設(shè)計院股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 上海政濟知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | - |
地址 | 200233上海市徐匯區(qū)虹漕路29號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型涉及壓力容器監(jiān)測技術(shù)領(lǐng)域,具體公開了高溫環(huán)境下基于超聲導(dǎo)波技術(shù)的承壓設(shè)備缺陷探測裝置,包括耐高溫壓電晶片、耐高溫導(dǎo)線、耐高溫導(dǎo)電膠、信號發(fā)生單元、計算機和示波器;所述耐高溫壓電晶片設(shè)有多個,并通過耐高溫導(dǎo)電膠粘接于待監(jiān)測的承壓設(shè)備上,用于激勵并接收承壓設(shè)備缺陷探測所需的超聲導(dǎo)波信號。所述信號發(fā)生單元產(chǎn)生第一電信號,該第一電信號經(jīng)耐高溫導(dǎo)線傳輸至耐高溫壓電晶片,并轉(zhuǎn)換為壓力信號;壓力信號在承壓設(shè)備中傳播至其余耐高溫壓電晶片,并轉(zhuǎn)換為第二電信號,該第二電信號經(jīng)耐高溫導(dǎo)線傳輸至示波器顯示,并保存接收至計算機,計算機根據(jù)第二電信號計算出承壓設(shè)備的缺陷位置。 |
