一種半導(dǎo)體晶片測(cè)厚設(shè)備
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202210025646.X | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN114038777A | 公開(公告)日 | 2022-02-11 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114038777A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-02-11 |
分類號(hào) | H01L21/68(2006.01)I;H01L21/683(2006.01)I;H01L21/687(2006.01)I;H01L21/66(2006.01)I | 分類 | 基本電氣元件; |
發(fā)明人 | 張新峰;黃宏嘉;帝瑪;陳善亮;楊祚寶;王霖;龍安澤;曹金星;杜陳;應(yīng)艷陽 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 江蘇卓遠(yuǎn)半導(dǎo)體有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 合肥市都耒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 何鑫鑫 |
地址 | 226500江蘇省南通市如皋市城南街道電信東一路6號(hào) | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及檢測(cè)設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種半導(dǎo)體晶片測(cè)厚設(shè)備,包括循環(huán)檢測(cè)機(jī)構(gòu),所述循環(huán)檢測(cè)機(jī)構(gòu)包括檢測(cè)箱,所述檢測(cè)箱上固定設(shè)置有兩個(gè)用于吸取晶片的吸持機(jī)構(gòu)。本發(fā)明中,通過于半導(dǎo)體晶片測(cè)厚設(shè)備中的盒體兩端均設(shè)置有吸持機(jī)構(gòu),使得兩個(gè)夾持板能閉合,從而能通過兩個(gè)夾持板夾持住半導(dǎo)體晶片或者晶圓進(jìn)行夾持,從而能對(duì)半導(dǎo)體晶片或者晶圓對(duì)定位,確保晶片能在兩個(gè)夾持板的中心位置處,這樣能便于對(duì)晶片的中心點(diǎn)進(jìn)行測(cè)厚,并且通過朝下吸持晶片能防止灰塵落到晶片或者晶圓的表面,從而能提高設(shè)備測(cè)厚的準(zhǔn)確率,通過于半導(dǎo)體晶片測(cè)厚設(shè)備中設(shè)置有循環(huán)檢測(cè)機(jī)構(gòu),形成一套循環(huán)的流程,這樣能提高設(shè)備對(duì)多個(gè)晶片或者晶圓的檢測(cè)效率。 |
