產(chǎn)品點數(shù)裝置及芯片測試設(shè)備
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | 2020110631068 | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN112246663A | 公開（公告）日 | 2021-01-22 |
| 申請公布號 | CN112246663A | 申請公布日 | 2021-01-22 |
| 分類號 | B07C5/00(2006.01)I; | 分類 | 將固體從固體中分離；分選; |
| 發(fā)明人 | 楊建設(shè);張雅凱;繆凱;樊飛 | 申請（專利權(quán)）人 | 昆山思特威集成電路有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 深圳中一聯(lián)合知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 劉艷 |
| 地址 | 215300 江蘇省蘇州市昆山市錦溪鎮(zhèn)錦順路188號 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明提供了一種產(chǎn)品點數(shù)裝置及芯片測試設(shè)備，產(chǎn)品點數(shù)裝置包括料盤傳輸機構(gòu)，用于運輸裝滿待檢測產(chǎn)品的料盤，料盤傳輸機構(gòu)的傳輸方向沿Y軸設(shè)置；外觀檢查機構(gòu)，設(shè)于料盤傳輸機構(gòu)的上方，且用于確認產(chǎn)品的數(shù)量、檢查產(chǎn)品的外觀和放置方向；補料傳輸機構(gòu)，用于運輸補料盤，補料傳輸機構(gòu)的傳輸方向沿Y軸設(shè)置；以及抓取機構(gòu)，用于去除不良品，并從補料傳輸機構(gòu)上的補料盤抓取產(chǎn)品填補至料盤傳輸機構(gòu)上的料盤，抓取機構(gòu)包括X軸移動模組以及設(shè)于X軸移動模組上的抓料組件。本發(fā)明提供的產(chǎn)品點數(shù)裝置及芯片測試設(shè)備，實現(xiàn)了對產(chǎn)品的自動點數(shù)、檢測以及補料，極大地降低了人力成本，減小了誤檢、漏檢的情況發(fā)生，提高了出貨質(zhì)量。?? |
