非易失性隨機訪問存儲器測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201110086332.2 申請日 -
公開（公告）號 CN102737724B 公開（公告）日 2016-04-06
申請公布號 CN102737724B 申請公布日 2016-04-06
分類號 G11C29/48(2006.01)I 分類 信息存儲;
發(fā)明人 張磊 申請（專利權(quán)）人 北京大家玩科技有限公司
代理機構(gòu) 北京高航知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 趙永強
地址 100020 北京市朝陽區(qū)工人體育場北路8號院2號樓12層01-1503
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種非易失性隨機訪問存儲器測試方法，該方法包括：設(shè)置診斷模式的測試參數(shù)及壓力模式的測試參數(shù)；初始化所設(shè)置的測試參數(shù)以得到診斷模式及壓力模式；在診斷模式下對BIOS的非易失性隨機訪問存儲器進行測試；在壓力模式下對BIOS的非易失性隨機訪問存儲器進行測試；生成診斷模式下進行測試的日志文件及壓力模式下進行測試的日志文件。本發(fā)明還提供一種非易失性隨機訪問存儲器測試系統(tǒng)。利用本發(fā)明測試人員可以不用停留在測試機臺旁邊，完全擺脫測試人員手動測試，程序自動偵測對BIOS中NVRAM的讀寫的開始和結(jié)束時間，指定保存文件后，相關(guān)的日志文件自動保存，方便測試人員查看。