一種訓(xùn)練方法、目標(biāo)檢測(cè)方法、介質(zhì)及電子設(shè)備

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202011430940.6 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN112418344A 公開(公告)日 2021-02-26
申請(qǐng)公布號(hào) CN112418344A 申請(qǐng)公布日 2021-02-26
分類號(hào) G06K9/62(2006.01)I 分類 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù);
發(fā)明人 王海濤;袁德勝;游浩泉;成西鋒;任曉雙;崔龍;馬衛(wèi)民;林治強(qiáng);黨毅飛;李偉超 申請(qǐng)(專利權(quán))人 匯納科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海光華專利事務(wù)所(普通合伙) 代理人 徐秋平
地址 201505上海市金山區(qū)亭林鎮(zhèn)亭楓公路333號(hào)216室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種訓(xùn)練方法、目標(biāo)檢測(cè)方法、介質(zhì)及電子設(shè)備;所述訓(xùn)練方法包括:獲取一訓(xùn)練數(shù)據(jù)集,所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集包括多個(gè)訓(xùn)練數(shù)據(jù),每一訓(xùn)練數(shù)據(jù)包含一訓(xùn)練圖像以及該訓(xùn)練圖像中選擇框的位置、尺寸、角度和類別;利用所述訓(xùn)練數(shù)據(jù)集對(duì)所述圖像處理模型進(jìn)行訓(xùn)練。所述訓(xùn)練方法能夠克服現(xiàn)有技術(shù)中采用水平框?qū)A斜目標(biāo)進(jìn)行檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)的目標(biāo)定位不準(zhǔn)確以及識(shí)別率低的問(wèn)題。??