測量頭及測量裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202122001161.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN215984439U 公開（公告）日 2022-03-08
申請(qǐng)公布號(hào) CN215984439U 申請(qǐng)公布日 2022-03-08
分類號(hào) G01B21/00（2006.01）I;G01B21/18（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張秉君 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 富聯(lián)裕展科技（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市賽恩倍吉知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 關(guān)雅慧
地址 518109廣東省深圳市觀瀾富士康鴻觀科技園B區(qū)廠房5棟C09棟4層、C07棟2層、C08棟3層4層、C04棟1層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種測量頭，用于測量臺(tái)階孔。臺(tái)階孔包括連通的第一孔和第二孔，第一孔的孔徑大于第二孔的孔徑。測量頭包括測量主體、連接件、定位件和彈性件。測量主體包括一測量部，測量部的外徑大于第二孔的孔徑。定位件設(shè)于測量主體內(nèi)，定位件的外徑與第二孔的孔徑相匹配。彈性件設(shè)于測量主體內(nèi)且抵持定位件，彈性件通過彈力推動(dòng)定位件伸出測量部，使定位件穿過第一孔并伸入第二孔。定位件對(duì)測量主體進(jìn)行導(dǎo)向，使測量部伸入第一孔并抵接第二孔的孔口，以測量第一孔的深度。上述測量頭及測量裝置，通過定位件與測量主體，利用彈性件推動(dòng)定位件伸入第二孔，通過定位件伸入第二孔定位，測量主體在定位件的導(dǎo)向下伸入第一孔，測量第一孔的深度，提升檢測精度。